| عنوان فارسی مقاله: | تشخیص نقص مبتنی بر شیفت میانگین سطوح ویفر خورشیدی چند – کریستالی |
| عنوان انگلیسی مقاله: | Mean Shift-Based Defect Detection in Multicrystalline Solar Wafer Surfaces |
چکیده
۱. پیشگفتار
۲. تشخیص نقش با استفاده از شیفت-میانگین
A. الگوریتم شیفت میانگین
B. طرح ارائه شده‌ی بازرسی ویفر خورشیدی چند-کریستالی
C. انتخاب مقادیر پارامتر شیفت-میانگین
۳. نتایج تجربی
A. تاثیر تغییرات در پهنای باند فضایی hs
B. تاثیر تغییرات در پهنای باند دامنه‌ی hr
C. تاثیر تغییرات در آستانه‌ی پایان
d. تاثیر تغییرات در اندازه‌های پنجره برای ویژگی آنتروپی
E نتایج تست بیشتر
۴. نتیجه‌گیری
کلمات کلیدی :
About 286,000 results (0.85 seconds) Scholarly articles for Shift-Based Defect Detection in Multicrystalline Solar Wafer … -based defect detection in multicrystalline solar wafer … - Tsai - Cited by 58 Search Results Mean Shift-Based Defect Detection in Multicrystalline Solar Wafer ... ieeexplore.ieee.org/iel5/9424/5709247/05660082.pdf by DM Tsai - 2011 - Cited by 58 - Related articles Mean Shift-Based Defect Detection in. Multicrystalline Solar Wafer Surfaces. Du-Ming Tsai and Jie-Yu Luo. Abstract—This paper presents an automated visual ... Mean Shift-Based Defect Detection in Multicrystalline Solar Wafer ... ieeexplore.ieee.org/document/5660082/ by DM Tsai - 2011 - Cited by 56 - Related articles This paper presents an automated visual inspection scheme for multicrystalline solar wafers using the mean-shift technique. The surface quality of a solar. Mean Shift-Based Defect Detection in Multicrystalline Solar Wafer ... https://www.researchgate.net/.../220366166_Mean_Shift-Based_Defect_Detection_in_M... This paper presents an automated visual inspection scheme for multicrystalline solar wafers using the mean-shift tech- nique. The surface quality of a solar wafer ... SID.ir | MEAN SHIFT-BASED DEFECT DETECTION IN ... en.journals.sid.ir/ViewPaper.aspx?ID=500046 Download Free Full-Text of an article MEAN SHIFT-BASED DEFECT DETECTION IN MULTICRYSTALLINE SOLAR WAFER SURFACES.