X
تبلیغات
رایتل
1396/09/25 @ 17:24

ساختار فولادی با سیستم جذاب نشت مایعات - مقاله ترجمه شده


عنوان فارسی مقاله: روش اسکن غیرعمدی برای نقص های مربوط به بخش های پشتی ساختارهای فولادی با استفاده از سیستم های جذاب نشت مایعات
عنوان انگلیسی مقاله:

Unintentional Scanning Method for Back-Side Imperfection of Steel Construction Using Attractive Fluidity Leakage System





برای دانلود رایگان مقاله انگلیسی روش اسکن غیرعمدی برای نقص های مربوط به بخش های پشتی ساختارهای فولادی با استفاده از سیستم های جذاب نشت مایعات و خرید ترجمه فارسی آن با فرمت ورد اینجا کلیک نمایید


 







   

     
  • فهرست مطالب:


1. مقدمه
2. سیستم های اندازه گیری و روش های تجربی
الف: پیکربندی سیستم های اسکن خودکار
ب: شرایط و نمونه های اندازه گیری
نتایج و مبحث
الف: تغییر سیگنال های مغناطیسی صفحات فولادی با نقص های موجود در بخش پشتی در اثر زنگ زدگی
ب: اندازه گیری سیگنال های مغناطیسی در جرثقیل با استفاده از سیستم اسکن خودکار
4. نتیجه گیری

 



کلمات کلیدی :


Optical identification using imperfections in 2D materials - IOPscienceiopscience.iop.org/article/10.1088/2053-1583/aa8b4d/pdfby Y Cao - ‎2017Sep 28, 2017 - Physical unclonable functions (PUFs) provide a method to generate secrets for unique identification or cryptographic key generation [2]. Instead of storing the secret in digital memory, or asking a user to provide it, it is derived from a physical characteristic of the system. A PUF can be constructed in various ...Defect and structural imperfection effects on the electronic properties ...iopscience.iop.org/article/10.1088/1367-2630/16/7/075013by S Fiedler - ‎2014 - ‎Cited by 17 - ‎Related articlesJul 24, 2014 - Here we report on a detailed investigation of the surface morphology and electronic properties of cleaved BiTeI single crystals by scanning tunneling microscopy, .... Hz. The acquisition of dI/dU maps with variable voltage is a valuable method for surfaces with inhomogeneous terminations as it allows one to ...Patent US6376329 - Semiconductor wafer alignment using backside ...www.google.com/patents/US6376329Apr 23, 2002 - An alignment optical system is disposed at a backside of the wafer which is remote from the projection lens system. The alignment ... In one embodiment the technique for detecting the alignment marks 44 is what is called commercially by Nikon Corporation “LSA” (laser scanning alignment). This is an ...